31007測量系統(tǒng)分析(修訂稿2002919)(doc)

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31007測量系統(tǒng)分析(修訂稿2002919)(doc)
杭州永磁集團有限公司企業(yè)標準 測量系統(tǒng)分析(MSA)方法 Q/HC31007A—2002 1.目的 對測量系統(tǒng)變差進行分析評估,以確定測量系統(tǒng)是否滿足規(guī)定的要求,確保測量數(shù)據(jù)的 質(zhì)量。 2.范圍 適用于本公司用以證實產(chǎn)品符合規(guī)定要求的所有測量系統(tǒng)分析管理。 3.職責 3.1質(zhì)管部負責測量系統(tǒng)分析的歸口管理; 3.2公司計量室負責每年對公司在用測量系統(tǒng)進行一次全面的分析; 3.3各分公司(分廠)質(zhì)檢科負責新產(chǎn)品開發(fā)時測量系統(tǒng)分析的具體實施。 4.術語解釋 4.1測量系統(tǒng)(Measurement system):用來對被測特性賦值的操作、程序、量具、設備以及操作人員的集合,用來獲 得測量結果的整個過程。 4.2偏倚(Bias):指測量結果的觀測平均值與基準值的差值。 4.3穩(wěn)定性(Stability):指測量系統(tǒng)在某持續(xù)時間內(nèi)測量同一基準或零件的單一特性時獲 得的測量平均值總變差,即偏倚隨時間的增量。 4.4重復性:重復性(Repeatability)是指由同一位檢驗員,采用同一量具,多次測量同 一產(chǎn)品的同一質(zhì)量特性時獲得的測量值的變差。 4.5再現(xiàn)性: 再現(xiàn)性(Reproductivity) 是指由不同檢驗員用同一量具,多次測量同一產(chǎn)品的同一質(zhì)量特性時獲得的測量平均值 的變差。 4.6分辨率(Resolution):測量系統(tǒng)檢出并如實指示被測特性中極小變化的能力。 4.7可視分辨率(Apparent Resolution):測量儀器的最小增量的大小,如卡尺的可視分辨率為0.02mm。 4.8有效分辨率(Effective Resolution):考慮整個測量系統(tǒng)變差時的數(shù)據(jù)等級大小。用測量系統(tǒng)變差的置信區(qū)間長 度將制造過程變差(6δ)(或公差)劃分的等級數(shù)量來表示。關于 有效分辨率,在99%置信水平時其標準估計值為1.41PV/GR&R。 4.9分辨力(Discrimination):對于單個讀數(shù)系統(tǒng),它是可視和有效分辨率中較差的。 杭州永磁集團有限公司2002-6-8批準 2002-6- 10實施 Q/HC31007A—2002 4.10盲測:指在實際測量環(huán)境中,檢驗員事先不知正在對該測量系統(tǒng)進行分析,也不知道 所測為那一只產(chǎn)品的條件下,獲得的測量結果。 4.11計量型與計數(shù)型測量系統(tǒng):測量系統(tǒng)測量結果可用具體的連續(xù)的數(shù)值來表述,這樣的 測量系統(tǒng)稱之為計量型測量系統(tǒng); 測量系統(tǒng)測量結果用定性的數(shù)據(jù)來表述,如用通過或不能通過塞規(guī)的方式來描述一只圓棒 直徑尺寸,這樣的測量系統(tǒng)稱之為計數(shù)型測量系統(tǒng)。計量型測量系統(tǒng)和計數(shù)型測量系統(tǒng)的 分析將用到不同的方法。 5.工作程序: 5.1測量系統(tǒng)分析時機:在下述三種情況下必須進行測量系統(tǒng)分析。 5.1.1 新產(chǎn)品開發(fā)時; 5.1.2檢驗員發(fā)生變更或新購量具或經(jīng)維修過的量具投入使用前; 5.1.3 定期做,公司規(guī)定每年進行一次全面的測量系統(tǒng)分析,分析范圍覆蓋所有合格在用的不同 型號規(guī)格的量具,分析內(nèi)容覆蓋測量系統(tǒng)五性。 5.2測量系統(tǒng)分析條件 5.2.1測量作業(yè)必須標準化; 5.2.2檢驗員必須是經(jīng)培訓合格人員; 5.2.3測量儀器必須是檢定合格狀態(tài); 5.2.4質(zhì)量特性測量值可重復。 5.3計量型測量系統(tǒng)分析 5.3.1 穩(wěn)定性分析 5.3.1.1選取一個樣本并確定其相對于可追溯標準的基準值,如果不能得到,則選擇一個 落在使用的量程中程數(shù)的產(chǎn)品,并指定它作為標準樣本進行穩(wěn)定性分析。 5.3.1.2定期(天,周,月)測量基準樣品3- 5次,決定樣本容量和頻率時考慮的因素有:校準周期、使用頻率、修理次數(shù)和使用環(huán)境 等。讀數(shù)應在不同時間讀取以代表測量系統(tǒng)實際使用的情況。 5.3.1.3將測量值描繪在《量具穩(wěn)定性分析報告》記錄的XBAR-R控制圖上。 5.3.1.4計算控制界限,并參照Q/HC31006A—2002《SPC(統(tǒng)計過程控制)應用方法》控制圖 判讀規(guī)則對不穩(wěn)定或失控作出判斷,如有不穩(wěn)或異?,F(xiàn)象應進行原因分析,并采取相應 措施(如對量具進行校準或維修)。 5.3.1.5測量系統(tǒng)穩(wěn)定性分析記錄于《量具穩(wěn)定性分析報告》中。 Q/HC31007A—2002 5.3.2偏倚分析(獨立樣本法) 5.3.2.1獲取一個樣本并確定其相對于可追溯標準的基準值, 如果不能得到,則選擇一個落在使用的量程中程數(shù)的產(chǎn)品,并對其用精密的量具(通常精 度為被分析量具的4~10倍)測量10次計算平均值,此值作為“基準值”。 5.3.2.2由一位檢驗員,以常規(guī)方式對樣品測量10次,并計算10次讀數(shù)的平均值, 此值即為“觀測平均值”。 5.3.2.3計算偏倚 偏倚=觀測平均值--基準值 制造過程變差=6δ 偏倚%=偏倚/制造過程變差×100% 制造過程變差可從以前的過程控制圖得出,或從同時進行的過程能力研究得出,如無 法求得時,可用規(guī)格公差代替。 5.3.2.4偏倚接受準則: a. 對測量重要特性的測量系統(tǒng)偏倚%10%時可接受; b. 對測量一般特性的測量系統(tǒng)10%≤偏倚%≤30%時可接受; c. 偏倚%>30%,拒絕接受。 5.3.2.5偏倚分析記錄于《量具偏倚分析報告》 5.3.3線性分析 5.3.3.1選擇5個產(chǎn)品,它們的測量值要覆蓋量具的工作量程。 5.3.3.2用精密量具測量每個產(chǎn)品以確定它們各自的“基準值”并確認其尺寸覆蓋了被分析 量具的工作量程。 5.3.3.3由被分析量具的操作員盲測每個產(chǎn)品12次,并計算測量平均值和偏倚。 5.3.3.4繪圖:以基準值為X軸,偏倚為Y軸作散布圖。 5.3.3.5使用以下公式求最佳擬合這些點的回歸直線和直線的相關系數(shù)R。 y=b+ax 式中:x為基準值 y為偏倚 b為截距 a為斜率 a=[ΣXiYi-ΣXiΣYi/n]/[ ΣXi2-(ΣXi)2/n] b=(ΣYi-aΣXi)/n R2=[ΣXiYi-ΣXiΣYi/n]2/{[ΣXi2 -(ΣXi)2/n]×[ΣYi2-(ΣYi)2/n]} 線性= 斜率 ×(制造過程變差)= Q/HC31007A—2002 線性%=[線性/制造過程變差] ×100% 5.3.3.6線性判讀準則 5.3.3.6.1線性程度判讀 a. R2=1,完全相關,點散布在一條直線上; b. R2=0,完全不相關,X與Y的變化完全不存在任何依存關系; c. 0
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